利用數(shù)字源表測試GaN HEMT直流參數(shù)

基于普賽斯S/CS系列源表的直流l-V特性測試系統(tǒng)

  整套測試系統(tǒng)基于普賽斯S/CS系列源表,配合探針臺以及專用測試軟件,可用于GaN   HEMT、GaAs射頻器件直流參數(shù)測試,包括閾值電壓、電流、輸出特性曲線等。

S/CS系列直流源表

  S系列源表是普賽斯歷時多年打造的高精度、大動態(tài)范圍、數(shù)字觸摸的率先國產(chǎn)化源表,集電壓、電流的輸入輸出及測量等多種功能,Z大電壓300V,Z大電流1A,支持四象限工作,支持線性、對數(shù)、自定義等多種掃描模式。可用于生產(chǎn)、研發(fā)中的GaN、GaAs射頻材料以及芯片的直流l-V特性測試。

  CS系列插卡式源表(主機+子卡)是針對多通道測試場景推出的模塊化測試產(chǎn)品。普賽斯插卡式源表單臺設(shè)備Z高可選配10張子卡,具有電壓、電流的輸入輸出及測量等多種功能,Z大電壓300V,Z大電流1A,支持四象限工作,具有通道密度高、同步觸發(fā)功能強、多設(shè)備組合效率高等特點。

  對于射頻器件的直流特性測試,其柵極電壓一般在±10V以內(nèi),源、漏端電壓在60V以內(nèi)。此外,由于器件為三端口類型,因此,至少需2臺S源表,或者2通道CS子卡。

輸出特性曲線測試

 在柵、源電壓VGs一定的情況下,源、漏電流lbs與電壓Vos之間的變化曲線,稱為輸出特性曲線。隨著Vos的增加而不斷,電流los也不斷增加至飽和狀態(tài)。此外,通過測試不同柵、源電壓Vcs值,可以獲得一組輸出特性曲線。

跨導(dǎo)測試

  跨導(dǎo)gm是表征器件柵極對溝道控制能力強弱的參數(shù),跨導(dǎo)值越大,說明柵極對溝道的控制能力越強。

  其定義為gm=dlDs/dVgo在源、漏電壓一定的情況下,測試源、漏電流lDs與柵、源電壓VGs之間的變化曲線,并對曲線進(jìn)行求導(dǎo),即可得到跨導(dǎo)值。其中,跨導(dǎo)值Z大的地方稱為gm,max。

武漢普賽斯一直專注于功率器件、射頻器件以及第三代半導(dǎo)體領(lǐng)域電性能測試儀表與系統(tǒng)開發(fā),基于核心算法和系統(tǒng)集成等技術(shù)平臺優(yōu)勢,率先自主研發(fā)了高精度數(shù)字源表、脈沖式源表、脈沖大電流源、高速數(shù)據(jù)采集卡、脈沖恒壓源等儀表產(chǎn)品以及整套測試系統(tǒng)。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用在功率半導(dǎo)體材料與器件、射頻器件、寬禁帶半導(dǎo)體的分析測試領(lǐng)域。可根據(jù)用戶的需求,提供高性能、高效率、高性價比的電性能測試綜合解決方案。