塑料薄膜高絕緣電阻測(cè)量?jī)x

塑料薄膜高絕緣電阻測(cè)量?jī)x  直流絕緣電阻率測(cè)量?jī)x測(cè)量范圍"這個(gè)技術(shù)參數(shù)上，看來是在做設(shè)備選型或測(cè)試方案設(shè)計(jì)。從對(duì)話歷史看，用戶之前研究過固體表面電阻檢測(cè)儀，現(xiàn)在轉(zhuǎn)向更專業(yè)的絕緣材料測(cè)試設(shè)備，可能是電子制造或電力行業(yè)的工程師。

塑料薄膜高絕緣電阻測(cè)量?jī)x  需要特別注意幾個(gè)關(guān)鍵矛盾點(diǎn)：提到通用范圍是0.1MΩ-1000MΩ，但的絕緣子測(cè)試儀量程標(biāo)到1999MΩ，的高端設(shè)備甚至到400GΩ，這個(gè)差異其實(shí)對(duì)應(yīng)不同電壓等級(jí)——5000V檔和10000V檔的量程上限不同。

用戶沒有明確測(cè)量對(duì)象，需要覆蓋多種可能性。電力設(shè)備方面，提到的10000V/400GΩ適用于750kV變電站，而的500V/0.5MΩ適用于直流系統(tǒng)接地檢測(cè)。有意思的是展示的量程擴(kuò)展規(guī)律：500V對(duì)應(yīng)20GΩ，5000V對(duì)應(yīng)200GΩ，說明電壓檔位和量程呈正相關(guān)，這個(gè)規(guī)律對(duì)用戶選型很重要。

準(zhǔn)備用分層方式組織答案：先按應(yīng)用場(chǎng)景分電力設(shè)備/電子元器件/綜合測(cè)試三類，再在每類中標(biāo)明電壓-量程對(duì)應(yīng)關(guān)系。表格會(huì)比純文字更清晰，比如把的5000V/1999MΩ和的5000V/200GΩ對(duì)比列出來，用戶能直觀看到同電壓檔位的量程差異源于儀器精度不同。

影響電阻率的外界因素

電阻率不僅與材料種類有關(guān)，而且還與溫度、壓力和磁場(chǎng)等外界因素有關(guān)。金屬材料在溫度不高時(shí)，ρ與溫度t(℃)的關(guān)系是ρt=ρ0(1+at)，式中ρt與ρ0分別是t℃和0℃時(shí)的電阻率;α是電阻率的溫度系數(shù)，與材料有關(guān)。錳銅的α約為1×10-1/℃(其數(shù)值極小)，用其制成的電阻器的電阻值在常溫范圍下隨溫度變化極小，適合于作標(biāo)準(zhǔn)電阻。已知材料的ρ值隨溫度而變化的規(guī)律后，可制成電阻式溫度計(jì)來測(cè)量溫度。半導(dǎo)體材料的α一般是負(fù)值且有較大的量值。制成的電阻式溫度計(jì)具有較高的靈敏度。有些金屬(如Nb和Pb)或它們的化合物，當(dāng)溫度降到幾K或十幾K( 溫度)時(shí)，ρ突然減少到接近零，出現(xiàn)超導(dǎo)現(xiàn)象，超導(dǎo)材料有廣泛的應(yīng)用前景。利用材料的ρ隨磁場(chǎng)或所受應(yīng)力而改變的性質(zhì)，可制成磁敏電阻或電阻應(yīng)變片，分別被用來測(cè)量磁場(chǎng)或物體所受到的機(jī)械應(yīng)力，在工程上獲得廣泛應(yīng)用。

直流絕緣電阻率測(cè)量?jī)x的測(cè)量范圍根據(jù)應(yīng)用場(chǎng)景、儀器類型及測(cè)試電壓的不同而有顯著差異，以下是綜合各類設(shè)備技術(shù)參數(shù)后的核心范圍分類：

 ?一、電力設(shè)備專用絕緣電阻測(cè)試儀?

?基礎(chǔ)量程?

?低壓設(shè)備?：500V檔位量程通常為 ?0.5MΩ–20GΩ?（如直流系統(tǒng)接地檢測(cè)）。

?中高壓設(shè)備?：

5000V檔位：?0–1999MΩ?（絕緣子測(cè)試）1 或擴(kuò)展至 ?200GΩ?（高端型號(hào)）；

10000V檔位： 高達(dá) ?400GΩ?（輸電線路絕緣子檢測(cè)）。

?特殊場(chǎng)景要求?

蓄電池組絕緣電阻：≥ ?0.2MΩ?（220V系統(tǒng)）；

直流母線絕緣電阻：≥ ?50MΩ?（500V搖表測(cè)量）。

?二、多功能/程控型測(cè)試儀?

?寬范圍覆蓋?

絕緣電阻：?100kΩ–99GΩ?（交直流耐壓一體機(jī)，支持多檔編程）；

電壓輸出：0.01kV–6kV，適配不同絕緣等級(jí)需求。

?高精度能力?

部分設(shè)備在2500V檔位可測(cè) ?100GΩ?，5000V檔位達(dá) ?200GΩ?（分辨率0.1MΩ）。

三、影響因素與范圍擴(kuò)展說明?

?關(guān)鍵因素? ?對(duì)量程的影響? ?示例?

?測(cè)試電壓? 電壓↑ → 可測(cè)電阻上限↑ 500V: 20GΩ → 5000V: 200GΩ

?儀器精度? 高精度設(shè)備支持更極值測(cè)量（如μΩ級(jí)低阻） 直流電阻測(cè)試：?1μΩ–20kΩ?

?環(huán)境干擾? 濕度過高可能導(dǎo)致高阻值測(cè)量誤差±5%以上 需控制濕度≤85%RH

注意?：超低阻（<1MΩ）或超高阻（>100GΩ）測(cè)量需選用專用設(shè)備，避免量程不匹配導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真；測(cè)量時(shí)應(yīng)嚴(yán)格遵循電壓-量程對(duì)應(yīng)關(guān)系，例如5000V檔位不可用于低于4MΩ的試品

應(yīng)用

電阻率較低的物質(zhì)被稱為導(dǎo)體，常見導(dǎo)體主要為金屬，而自然界中導(dǎo)電性 佳的是銀，其次為半導(dǎo)體，硅鍺。當(dāng)存在外電場(chǎng)時(shí)，金屬的自由電子在運(yùn)動(dòng)中不斷和晶格節(jié)點(diǎn)上做熱振子的正離子相碰撞，使電子運(yùn)動(dòng)受到阻礙，因而就具有了一定的電阻。其他不易導(dǎo)電的物質(zhì)如玻璃、橡膠等，電阻率較高，一般稱為絕緣體。介于導(dǎo)體和絕緣體之間的物質(zhì)(如硅) 則稱半導(dǎo)體。電阻率的科學(xué)符號(hào)為 ρ(Rho)。 已知物體的電阻，可由電阻率ρ、長(zhǎng)度 l 與截面面積A 計(jì)算：ρ=RA/I，在該式中， 電阻R 單位為歐姆，長(zhǎng)度 l 單位為米，截面面積 A 單位為平方米，電阻率 ρ單位為歐姆·米

意義

1 通常，絕緣材料用于將電氣系統(tǒng)的各部件相互絕緣和對(duì)地絕緣；固體絕緣材料還起機(jī)械支撐作用。對(duì)于這些用途，一般都希望材料具有盡可能高的絕緣電阻，有均勻一致的、得到認(rèn)可的機(jī)械、化學(xué)和耐熱性能。表面電阻隨濕度變化很快，而體積電阻隨溫度變化卻很慢，盡管其 終的變化也許較大。

2 體積電阻率能被用作選擇特定用途絕緣材料的一個(gè)參數(shù)。電阻率隨溫度和捏度的變化而顯著變 化，因此在為一些運(yùn)行條件而設(shè)計(jì)時(shí)必須對(duì)其了解。體積電阻率的測(cè)量常被用于檢查絕緣材料生產(chǎn)是否始終如一，或檢測(cè)能影響材料質(zhì)量而又不能用其他方法檢測(cè)到的導(dǎo)電雜質(zhì)。

3 當(dāng)一直流電壓加在與試樣相接觸的兩電極之間時(shí)，通過試樣的電流會(huì)漸近地減小到）個(gè)穩(wěn)定值。電流隨時(shí)間的減小可能是由于電介質(zhì)極化和可動(dòng)離子位移到電極所致。對(duì)于體積電阻率小于1010 Ω. m的材料，其穩(wěn)定狀態(tài)通常在一分鐘內(nèi)達(dá)到，因此，經(jīng)過這個(gè)電化時(shí)間后測(cè)定電阻。對(duì)于體積電阻率較高的材料，電流減小的過程可能會(huì)持續(xù)到幾分鐘、幾小時(shí)、幾天甚至幾星期。因此對(duì)于這樣的材 料，采用較長(zhǎng)的電化時(shí)間，且如果合適，可用體積電阻率與時(shí)間的關(guān)系來描述材料的特性。

4 由于或多或少的體積電導(dǎo)總是要被包括到表面電導(dǎo)測(cè)試中去，因此不能而只能近似地測(cè)量表面電阻或表面電導(dǎo)。測(cè)得的值主要反映被測(cè)試樣表面污染的特性。而且試樣的電容率影響污染物質(zhì)的 沉積，它們的導(dǎo)電能力又受試樣的表面特性所影響。因此，表面電阻率不是一個(gè)真正意義的材料特性， 而是材料表面含有污染物質(zhì)時(shí)與材料特性有關(guān)的一個(gè)參數(shù)。

某些材料如層壓材料在表面層和內(nèi)部可能有很不同的電阻率，因此測(cè)量清潔的表面的內(nèi)在性能是 有意義的。應(yīng)完整地規(guī)定為獲得一致的結(jié)果而進(jìn)行清潔處理的程序，并要記錄清潔過程中海劑或其他 因素對(duì)于表面特性可能產(chǎn)生的影響。

表面電阻，特別是當(dāng)它較高時(shí)，常以不規(guī)則方式變化，且通常非常依賴于電化時(shí)間。因此，測(cè)量時(shí)通 常規(guī)定一分鐘的電化時(shí)間。

注意事項(xiàng)

絕緣電阻儀器體積電阻表面電阻測(cè)試儀使用前請(qǐng)仔細(xì)閱讀以下內(nèi)容，否則將造成儀器損壞或電擊情況。

1. 檢查儀器后面板電壓量程是否置于10V檔，電流電阻量程是否置于104檔。

2. 接通電源調(diào)零，（注意此時(shí)主機(jī)不得與屏蔽箱線路連接）在“Rx”兩端開路的情況下，調(diào)零使電流表的顯示為0000。然后關(guān)機(jī)。

3. 將待測(cè)試樣平鋪在不保護(hù)電極正中央，然后用保護(hù)電極壓住樣品，再插入被保護(hù)電極（不保護(hù)電極、保護(hù)電極、被保護(hù)電極應(yīng)同軸且確認(rèn)電極之間無短路）。

4. 測(cè)體積電阻時(shí)測(cè)試按鈕撥到Rv邊，測(cè)表面電阻時(shí)測(cè)試按鈕撥到Rs邊，

5. 接好測(cè)試線，將測(cè)試線將主機(jī)與屏蔽箱連接好。量程置于104檔，打開主機(jī)后面板電源開關(guān)按鈕。從儀器后面板調(diào)電壓按鈕到所要求的測(cè)量電壓。(比如：GBT 1692-2008 硫化橡膠 絕緣電阻率的測(cè)定 標(biāo)準(zhǔn)中注明要求在500V電壓進(jìn)行測(cè)定，那么電壓就要升到500V)

6. 電流電阻量程按鈕從低檔位逐漸撥高檔，每撥一次停留1-2秒觀察顯示數(shù)字，當(dāng)被測(cè)電阻大于儀器測(cè)量量程時(shí)，電阻表顯示“1”，此時(shí)應(yīng)繼續(xù)將儀器撥到量程更高的位置。測(cè)量?jī)x器有顯示值時(shí)應(yīng)停下，在1min的電化時(shí)間后測(cè)量電阻，當(dāng)前的數(shù)字乘以檔次即是被測(cè)電阻。

7. 測(cè)試完畢先將量程撥至（104）檔，然后將測(cè)量電壓撥至10V檔， 后將測(cè)試按鈕撥到中央位置后關(guān)閉電源。然后進(jìn)行下一次測(cè)試。

8. 應(yīng)在“Rx”兩端開路時(shí)調(diào)零，一般一次調(diào)零后在測(cè)試過程中不需再調(diào)零。

9. 禁止將“RX”兩端短路，以免微電流放大器受大電流沖擊。

10. 不得在測(cè)試過程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓。

11. 測(cè)量時(shí)從低次檔逐漸撥往高次檔。

12. 接通電源后，手指不能觸及高壓線的金屬部分。

13. 不得測(cè)試過程中不能觸摸微電流測(cè)試端。

14. 在測(cè)量高阻時(shí)，應(yīng)采用屏蔽盒將被測(cè)物體屏蔽。

15. 嚴(yán)禁在試測(cè)過程隨意改變電壓量程及在通電過程中打開主機(jī)。

16. 嚴(yán)禁電流電阻量程未在104檔及電壓在10V檔，更換試樣。

體積電阻與表面電阻讀數(shù)取值

    體積電阻：

    按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB1410標(biāo)準(zhǔn)中第11.1說明規(guī)定：在試樣表面加上規(guī)定的直流電壓后開始計(jì)時(shí)，并在如下每個(gè)電化時(shí)間做一次測(cè)量：1 min、2 min、5 min、10 min、50 min、100 min.如果兩次連續(xù)測(cè)量得出同樣的結(jié)果，則可以結(jié)束試驗(yàn)并用這個(gè)電流值來計(jì)算體積電阻。作為驗(yàn)收試驗(yàn)，按照有關(guān)規(guī)范的規(guī)定，使用一個(gè)固定的電化時(shí)間如1MIN后的電流值來計(jì)算體積電阻率。

    表面電阻：

按照GB1410標(biāo)準(zhǔn)11.2中規(guī)定：應(yīng)在1MIN的電化時(shí)間后測(cè)量電阻，即使在此時(shí)間內(nèi)電流還沒有達(dá)到穩(wěn)定的狀態(tài)。

溫度影響

溫度對(duì)不同物質(zhì)的電阻值均有不同的影晌。

導(dǎo)電體 在接近室溫的溫度，良導(dǎo)體的電阻值，通常與溫度成線性關(guān)系：

ρ=ρ0(1+αt)

上式中的 a 稱為電阻的溫度系數(shù)。

未經(jīng)摻雜的半導(dǎo)體的電阻隨溫度升高而下降：

有摻雜的半導(dǎo)體變化較為復(fù)雜。當(dāng)溫度從 零度上升，半導(dǎo)體的電阻先是減少，到了絕大部分的帶電粒子 （電子或電洞/空穴） 離開了它們的載體后，電阻會(huì)因帶電粒子的活動(dòng)力下降而隨溫度稍為上升。當(dāng)溫度升得更高，半導(dǎo)體會(huì)產(chǎn)生新的載體 （和未經(jīng)摻雜的半導(dǎo)體一樣） ，原有的載體 （因滲雜而產(chǎn)生者） 重要性下降，于是電阻會(huì)再度下降。

絕緣體和電解質(zhì) 絕緣體和電解質(zhì)的電阻與溫度的關(guān)系一般不成比例，而且不同物質(zhì)有不同的變化，故不在此列出概括性的算式。

典型應(yīng)用

1,測(cè)量絕緣材料電阻(率)

2,測(cè)量防靜電材料的電阻及電阻率

3,測(cè)量計(jì)算機(jī)房用活動(dòng)地板的系統(tǒng)電阻值

4,測(cè)量防靜電鞋,導(dǎo)電鞋的電阻值

5,光電二極管暗電流測(cè)量

6,物理,光學(xué)和材料研究

使用條件

①環(huán)境溫度： 0～40℃

②相對(duì)溫度：≤70%

③供電電流：交流 220V±10%50Hz

電阻率是用來表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。某種物質(zhì)所制成的原件（常溫下20°C）的電阻與橫截面積的乘積與長(zhǎng)度的比值叫做這種物質(zhì)的電阻率。電阻率與導(dǎo)體的長(zhǎng)度、橫截面積等因素?zé)o關(guān)，是導(dǎo)體材料本身的電學(xué)性質(zhì)，由導(dǎo)體的材料決定，且與溫度、壓力、磁場(chǎng)等外界因素有關(guān)。

電阻率在國(guó)際單位制中的單位是Ω·m，讀作歐姆米，簡(jiǎn)稱歐米。常用單位為“歐姆·厘米”。

在溫度一定的情況下，有公式R=ρl/s其中的ρ就是電阻率，l為材料的長(zhǎng)度， S為面積。可以看出，材料的電阻大小與材料的長(zhǎng)度成正比，而與其截面積成反比。

電阻率（resistivity）是用來表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。

測(cè)試步驟：

1、測(cè)試溫度23±2℃，相對(duì)濕度65±5%，無外界電磁場(chǎng)干擾環(huán)境中進(jìn)行。

2、測(cè)試時(shí)對(duì)試樣所加電壓為100V~500V的直流電壓，選擇電壓檔次。

3、將試樣倒入高壓電極內(nèi)，使液面剛好和環(huán)電極下緣全部接觸為止。

4、將充分放電后的試樣和電極，按固體（液體）體積及表面電阻率測(cè)試儀要求接線。

外電極（高壓電極）接高固體（液體）體積及表面電阻率測(cè)試儀的高壓輸出端。

內(nèi)電極（測(cè)量電極）接固體（液體）體積及表面電阻率測(cè)試儀的測(cè)量端。

中電極（環(huán)電極）接固體（液體）體積及表面電阻率測(cè)試儀的接地端。

5、儀器預(yù)熱30分鐘，穩(wěn)定后調(diào)整儀器（調(diào)零），加上試驗(yàn)1分鐘，讀取電阻指示值，然后放電1分鐘，再測(cè)試一次，以二次的算術(shù)平均值作為試驗(yàn)樣品電阻指示值。

主要產(chǎn)品有：

拉力試驗(yàn)機(jī)，                      塑料球壓痕硬度計(jì)

維卡熱變形試驗(yàn)儀，                體積表面電阻率測(cè)試儀

海綿泡沫落球回彈試驗(yàn)機(jī)，          海綿泡沫拉伸強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)

耐壓試驗(yàn)機(jī)，                  介電常數(shù)測(cè)試儀

海綿泡沫壓陷硬度測(cè)驗(yàn)儀，          介質(zhì)損耗測(cè)試儀

海綿泡沫疲勞壓陷試驗(yàn)機(jī)，          薄膜沖擊試驗(yàn)機(jī)

熔融指數(shù)儀，                      無轉(zhuǎn)子硫化儀

電壓擊穿試驗(yàn)儀，                  摩擦系數(shù)儀

低溫脆性沖擊試驗(yàn)儀                阿克隆磨耗試驗(yàn)機(jī)等。