四探針粉末電阻測試儀 四探針粉末電阻測試儀

適用行業：:

用于：企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據.

雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。

基本原理

探針排布與電流注入?

四根探針（通常為鎢絲或碳化鎢材質）以等間距直線排列，外側兩探針（1、4號）通入恒定電流I，內側兩探針（2、3號）測量電壓降V。

電流源范圍通常為1μA~100mA，電壓表精度可達±0.1%

技術優勢

接觸電阻消除：電壓測量回路電流極小，探針接觸電阻及導線電阻可忽略，尤其適合高電阻率材料（如半導體）或薄膜測量。

無損檢測?：無需制備電極，對脆性材料（如硅片）無損傷。

寬量程覆蓋：測量范圍可達10??~10?Ω·cm電阻率及10??~10?Ω/□方塊電阻。

選擇適合導電粉末的電阻率測試儀需結合材料特性、測試精度及設備功能，以下是關鍵選擇要點：

一、測試方法適配性

四探針法?

適用于高精度測量，通過四根等間距探針消除接觸電阻誤差，尤其適合薄層或壓片導電粉末（如石墨烯、金屬粉）。

需確保探針材料為鉑或金，以提升穩定性和導電性。

二電極法?

操作簡單，適合塊狀或厚層樣品，但需通過高壓（）壓制粉末以減少接觸電阻影響。

二、核心性能要求

測量范圍與精度?

導電粉末電阻率通常較低（如10^-6～103Ω·cm），需選擇量程覆蓋此范圍且精度≤0.3%的儀器。

電導率計算需支持自動轉換（σ=1/ρ）。

環境控制?

溫濕度補償功能（如23±2℃、50±5%RH）可減少環境干擾。

三、樣品處理與設備功能

粉末壓片配套?

需搭配壓片機將粉末壓制成標準試樣（直徑15mm），確保密度和厚度一致性。

壓力控制精度需達±0.05MPa，避免孔隙率影響結果。

自動化與數據管理?

優選支持自動加載、實時數據記錄及曲線繪制的設備。

四、典型應用場景

電池材料?：如鋰電正極粉末，需同步測試電阻率-壓實密度關系。

金屬粉末?：需高電流（如300A）測試以模擬實際導電路徑。

參數：

高溫塑料薄膜電阻率測定儀恒溫范圍選擇方法

鉑薄膜RTD 高可測850℃，但塑料薄膜基材通常承受不了這么高溫度。這說明恒溫范圍選擇要先考慮材料耐溫性，而非儀器極限值。比如聚酰亞胺薄膜通常不超過400℃，而PE薄膜測試溫度可能只需80-120℃。

需要分三個維度建議：材料特性（分解溫度/相變點）、測試目的（質量控制/科研）、環境要求（氣氛保護）。尤其要提醒用戶注意GB/T 1410標準中要求的預處理溫度和時間，這些都會影響恒溫范圍設定。

選擇高溫塑料薄膜電阻率測定儀的恒溫范圍需綜合材料特性、測試標準及儀器性能，具體方法如下：

 一、根據材料特性選擇材料耐溫上限?

常見塑料薄膜（如PI、PET、PEI）的軟化點通常為 ?200℃~400℃?，測試溫度應低于材料分解溫度 ?20~50℃?，避免形變或性能劣化影響數據準確性。

例如：聚酰亞胺（PI）薄膜建議恒溫范圍 ?≤350℃?。

?相變點或玻璃化轉變溫度（Tg）?

測試溫度需覆蓋材料關鍵相變點（如Tg、熔點），例如研究導電薄膜時需包含 ?室溫~200℃? 區間以觀察電阻率突變。

二、匹配測試標準與實驗目的標準規范要求?

GB/T 10518-2006 規定絕緣材料高溫電阻測試需在 ?100℃~500℃? 范圍進行。

ASTM D257 建議測試溫度至少比材料 高使用溫度高 ?25℃?。

?功能需求?

若需研究溫度-電阻率曲線，恒溫范圍應覆蓋 ?材料 低工作溫度至 高失效溫度?（如 ?-70℃~300℃?）。

僅需高溫點測試（如150℃質量控制），可選單點恒溫機型。

??? 三、儀器性能關鍵參數

?溫控范圍與精度?

優先選擇寬溫域機型：如 ?GDW-500?（?-160℃~500℃?）或 ?HTIM-1000?（真空/氣氛環境）。

控溫精度需 ?≤±0.5℃?（如GDW-500），避免波動導致阻值漂移。

?溫場均勻性?

樣品區域溫差應 ?<±2℃?，確保薄膜受熱均勻。可通過紅外熱成像驗證設備溫場分布。

四、操作限制與風險規避

?儀器工作環境約束?

多數電阻率測試儀主機僅適應 ?0℃~40℃? 環境，高溫測試需外接獨立溫控腔體（如GDW-500的液氮制冷系統）。

?樣品預處理要求?

高溫測試前需在目標溫度下恒溫 ?≥30分鐘?，消除熱歷史效應。

?? 選型推薦表

?材料類型? ?建議恒溫范圍? ?? ?關鍵優勢?

?通用塑料薄膜? 室溫~300℃  性價比高，操作簡便

?耐高溫薄膜? -70℃~500℃  寬溫域，液氮制冷，精度±0.5℃

?導電/半導體膜? 真空環境~600℃  鉑電極防氧化，支持氣氛控制

?注?：極端條件測試（如>500℃）需定制設備，并確認電極材料（如鉑金）與夾具的耐溫性

體積電阻率測定儀，表面電阻率測定儀，體積表面電阻測試儀，絕緣材料電阻率測定儀，橡膠電阻率測試儀，塑料薄膜體積表面電阻率測定儀，體積電阻率表面電阻率測定儀，固體絕緣材料表面電阻率測試儀，電阻率測試儀,液體體積電阻率測定儀，粉體體積電阻率測定儀，三電極法體積表面電阻測定儀

能測試體積電阻率和表面電阻率實現目前市場測量量程寬

高阻測量一定要嚴格按使用方法步聚進行，否則有可能造成儀器 損壞或電人。

適用材料：

橡膠、塑料、聚酯薄膜、膠片、硅膠、光伏組件、汽車零部件、復合材料、陶瓷、玻璃、云母、樹脂等固體絕緣材料。配備不同電極還可測試液體、粉末材料。

體積，幾何學專業術語，是物件占有多少空間的量。體積的國際單位制是立方米。一件固體物件的體積是一個數值用以形容該物件在三維空間所占有的空間。一維空間物件（如線）及二維空間物件（如正方形）在三維空間中都是零體積的。

擴展資料：

體積計算方法：

體積公式是用于計算體積的公式，即計算各種幾何體體積的數學算式。比如：圓柱、棱柱、錐體、臺體、球、橢球等。

體積公式：計算各種由平面和曲面所圍成。

一般來說一個幾何體是由面、交線（面與面相交處）、交點（交線的相交處或是曲面的收斂處）而構成的圖形的體積的數學算式