粉末半導電材料電阻測試儀  粉末半導電材料電阻測試儀

提升精度的關鍵措施

?樣品制備?：確保表面平整、無污染，粉末樣品需壓實至密度均勻。

?探針控制?：保持探針間距恒定（通常0.5~1.5mm），壓力適中避免劃痕。

?環境校準?：定期用標準電阻校準儀器，避免溫濕度波動影響。

綜上，四探針法在理想條件下可實現±0.1%的儀器級精度，實際應用中需結合樣品特性和操作規范綜合評估

適用范圍

● 使?四探針治具測試?狀或塊狀半導體材料、?屬涂層以及導電薄膜等材料的?阻和電阻率

● 使?開爾?測試夾直接測試電阻器直流電阻；

四探針法與其他電阻測量方法在原理、精度和應用場景上存在顯著差異，以下是主要對比分析：

1. ?與兩探針法的比較?

?原理差異?：兩探針法僅通過兩個電極施加電流并測量電壓，而四探針法采用四個獨立電極（兩電流兩電壓），消除了接觸電阻和引線電阻的影響。

?精度對比?：兩探針法受接觸電阻和樣品形狀影響較大，誤差較高；四探針法通過分離電流和電壓測量通道，精度顯著提升，尤其適用于薄膜、納米材料等微尺度樣品。

?適用場景?：兩探針法適合塊體材料的粗略測量，四探針法則廣泛應用于半導體、光伏材料等高精度需求領域。

2. ?與范德堡法的比較?

?樣品適應性?：范德堡法改進后更適合微區薄層電阻測量，而常規四探針法在較厚樣品中更具優勢；雙電法則在超薄樣品中精度更高。

?操作復雜度?：范德堡法需多點測量并計算幾何修正因子，四探針法公式更直接（如ρ=CV/I，C為探針系數）。

3. ?與渦流法的比較?

?接觸方式?：渦流法為非接觸式，通過電磁感應測量，適合表面或涂層材料；四探針法需物理接觸，但可測量體電阻率。

?干擾因素?：渦流法易受樣品厚度和電磁環境影響，四探針法對內部結構無干擾，結果更穩定。

4. ?與電橋法的比較?

?靈敏度?：電橋法適合高阻材料（如絕緣體），四探針法對低阻材料（如金屬、半導體）更靈敏。

?自動化程度?：四探針法可結合Labview等實現自動化，電橋法多依賴手動調節平衡。

5. ?關鍵優勢總結?

?高精度?：四探針法通過分離電流/電壓通道，誤差可控制在7%以內（如銀薄膜測量）。

?廣泛適用性?：從硅片、土壤到植物葉片（如玉米葉片電阻率測量）均可應用。

?標準化?：符合GB/T 1551-2009等標準，支持不確定度評定（如光伏硅片測量）。

注意事項

?探針壓力?：壓力增大會導致電阻率測量值略微上升（如銀薄膜中壓力從1.47N增至4.41N時電阻率增加7%）。

?樣品要求?：需滿足半無限大條件，過薄樣品可能被探針刺穿。

綜上，四探針法在半導體、光伏材料等領域因高精度和標準化成為，而其他方法根據樣品特性和需求（如非接觸、高阻測量）各有適用場景。

參數

1. 軟件功能（選配）：軟件可記錄、保存、各點的測試數據；可供用戶對數據進行各種數據分析。

2. 基本設置操作簡單，方阻、電阻、電阻率、電導率和分選結果；多種參數同時顯示。

3. 精度高：電阻基本準確度： 0.01％；

方阻基本準確度：1%；

電阻率基本準確度：1%

4. 整機測量 大相對誤差：≤±1%；整機測量標準不確定度：≤±1%

5.比較器判斷燈直接顯示，勿需查看屏幕，作業效率得以提高。3檔分選功能：超上限，合格，超下限，可對被測件進行HI/LOW判斷，可直接在LCD使用標志顯示；也可通過USB接口、RS232接口輸出更為詳細的分選結果。

6. 測量范圍寬： 電阻：10-7Ω～10+8Ω ；方阻：10-7Ω/□～10+8Ω/□；

7. 測試模式：可連接電腦測試、也可不連接電腦單機測試。

8. 恒流源：電流量程為：DC100mA-1A；儀器配有恒流源開關可有效保護被測件，即先讓探針頭壓觸在被測材料上，后開恒流源開關，避免接觸瞬間打火。為了提高工作效率，如探針帶電壓觸單晶對材料及測量并無影響時，恒流源開關可一直處于開的狀態。

9. 可配合多種探頭進行測試；也可配合多種測試臺進行測試。

10. 顯示語言 英文/中文

11. 厚度可預設，自動修正樣品的電阻率,無需查表即可計算出電阻率。

12. 自動進行電流換向,并進行正反向電流下的電阻率(或方塊電阻)測量,顯示平均值.測薄片時,可自動進行厚度修正。

13. 供電模式110v/220v

14. 具備溫度補償功能，修正被測材料溫漂帶來的測試結果偏差。

15. 校正功能：可手動或自動選擇測試量程 全量程自動清零。

16. 雙電測測試模式，測量精度高、穩定性好.

測試

測量時從低檔位逐漸拔往高檔，每撥一次稍停留1～2秒以使觀察顯示數字， 當被測電阻大于儀器測量量程時，電阻表顯示“1”，此時應繼續將儀器撥到量程更高的位置，當測量儀器有顯示值時應停下，當前的數字乘以檔次即是被測電阻值。當有顯示數字時不要再往更高次檔撥，否測儀器會過量程，機內保護電路開始工作，儀器測量準確度會下降。

什么是電阻率？

　　電阻跟導體的材料、橫截面積、長度有關。

　　導體的電阻與兩端的電壓以及通過導體的電流無關。

　　導體電阻跟它長度成正比，跟它的橫截面積成反比．

　　什么是表面電阻率？

　　表面電阻：在試樣的某一表面上兩電極間所加電壓與經過一定時間后流過兩電極間的電流之商；訪伸展流主要為流過試樣表層的電流,也包括一部分流過試樣體積的電流成分.在兩電極間可能形成的極化忽略不計.

　　表面電阻率：在絕緣材料的表面層的直流電場強度與線電流密度之商,即單位面積內的表面電阻.

電阻率的測量方法和精度

　　1、方法：測量高電阻常用的方法是直接法和比較法.

　　直接法是測量加在試樣上的直流電壓和流過試樣的電流而求得試樣電阻.直接法主要有檢流計法和直流放大法（高阻計法）比較法主要有檢流計法和電橋法.

　　2、精度：對于大于10的10Ω的電阻,儀器誤差應在±20%的范圍內；對于不大于10的10Ω的電阻,儀器誤差應在±10%的范圍內.

　　3、保護：測量儀器用的絕緣材料一般只具有與被測材料差不多的性能.試樣的測試誤差可以由下列原因產生：

　　①外來寄生電壓引起的雜散電流通渠道.通常不知道它的大小,并且有漂移的特點；

　　②測量線路的絕緣材料與試樣電阻標準電阻器或電流測量裝置的并聯.

特點：

●電阻 ?精度：0.01%， 小分辨率0.1uΩ；

●方電阻精度：1%， 小分辨率：0.1uΩ；

●雙電測原理，提?精度和穩定性；

●測試探頭直排和矩形可選；

●標配RS232、LAN、IO、通訊接?；

●可配戴軟件查看和記錄測試數據；

　　在電流測量中,由于被保護端和保護端之間的電阻與電流測量裝置并聯可能產生誤差,因此前者至少應為電流測量裝置輸入電阻的10倍,好為100倍.在電橋法測量中,保護端與測量端帶有大致相同的電位,但電橋中的一個標準電阻與不保護端和保護端之間的電阻并聯,因此,后者至少為標準電阻的10倍,好20倍.

　　在開始測試前先斷開電源和試樣的連線進行一次測量,此時設備應在它的靈敏度許可范圍內指示無窮大的電阻.可用一些已知值的標準電阻業檢查設備運行是否良好.

　　體積電阻率為了測業體積電阻率,使用的保護系統應能抵消由表面電流引起的誤差.對表面泄漏可忽略的試樣,在測量體積電阻時可以去掉保護.

理論精度優勢

?消除接觸電阻干擾?：通過分離電流與電壓測量回路，電壓探針的高輸入阻抗（>1000MΩ）使接觸電阻產生的壓降可忽略，誤差主要來自探針間距的幾何修正系數（如直線排列時C≈6.28±0.05 cm）。

?儀器參數支持?：典型設備（如ST2742B型）的電流調節精度達±0.1%，電壓分辨力為10μV，電阻率測量范圍覆蓋10??～10? Ω·cm，滿足寬量程需求。

對比其他方法的精度差異

?vs兩探針法?：四探針法因消除導線電阻和接觸電阻影響，精度提升約1個數量級，尤其適用于高阻薄膜（如石墨烯）。

?vs萬用表法?：萬用表受限于電流源穩定性，低阻測量時易飽和，而四探針法通過恒流源（如100mA檔）可穩定測量低至10?? Ω·cm的電阻率。

典型應用場景

?鋰電池材料?：如石墨烯、磷酸鐵鋰的電阻率檢測?；

?半導體粉末?：硅粉、碳納米管的電導率分析?；

?科研與質檢?：高校、實驗室及企業研發部門的質量評估?。

核心選型要素?

?測量原理與精度?

?三電極法?：符合 ?GB/T 10518-2006? 標準，適合絕緣材料高溫電阻率測試。

?四探針法?：適用于薄膜類材料，可測方塊電阻和電阻率，支持溫度-電阻曲線分析。

?電阻范圍?：至少覆蓋 ?10?~101?Ω?，高阻值段（>1012Ω）誤差需≤±20%。

?樣品兼容性?

?夾具要求?：薄膜樣品直徑應≥100mm（不足需定制電極）。

?測試方式?：表面電阻與體積電阻需分開測量，且必須先測表面電阻。

通用測試方法標準?

?標準號? ?核心要求? ?適用場景?

?四探針法? 預壓成型后持續施壓，同步記錄壓實密度與電阻率變化曲線，分辨率 ?0.01 μΩ?17 高精度科研及鋰電池質檢

?兩探針法? 直接接觸法測量，操作簡便但需規避接觸電阻干擾，誤差控制≤±0.5%37 常規導電性快速篩查

?粉末壓制法? 特定壓力（如 ?200 MPa?）下成型試樣，模擬實際應用狀態，重復性≤5%35 炭素、冶金工業原料質檢

?? ?標準實施要點總結?

?方法選擇優先級?：

鋰電池正極材料 ?強制采用四探針法?（GB/T 45324-2025）1；

炭素原料可兼容 ?四端子法?（GB/T 24521-2018）或 ?粉末壓制法?（YS/T 587.6-2006）26。

?儀器合規性?：

模具尺寸需精確匹配標準（如鋰電池用 ?Φ16.3 mm±0.1 mm?，炭素用 ?Φ30 mm?）68；

壓力系統誤差需≤±1%（如 ?3 MPa±0.03 MPa?）6。

?數據可比性?：

采用相同標準（如 ?YS/T 625-2007? 陰極炭塊標準）確保跨批次結果一致性